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二维显微应变测量系统是一款基于DIC技术的二维非接触式应变仪,通过具有水平激光自动对焦模组的高精度单目显微镜,配合原位加载台或冷热台,可实现微米级微观试样加载过程的图像采集,系统软件完成对图像的计算,并实时输出测量的变形结果。
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二维显微应变测量系统是一款基于DIC技术的二维非接触式应变仪,通过具有水平激光自动对焦模组的高精度单目显微镜,配合原位加载台或冷热台,可实现微米级微观试样加载过程的图像采集,系统软件完成对图像的计算,并实时输出测量的变形结果。
二. 应用领域:
测量微小试样的二维应变,适用于生物材料、半导体材料、电子产品、碳纤维材料和零件的抗拉、抗压、抗弯、受热变形等领域。
三. 产品优势:
· 非接触式测量
· 全场测量
· 不受温度限制,可实现高低温状态下测量,可测量温度范围-190℃——600℃
· 不受应变范围限制,可测量应变范围:0.005%—2000%
· 不受试样形状限制,板状、棒状、片状、线状、薄膜
· 不受应变方向限制,可同时实现多个方向的变形和应变测量
四. 产品参数: